納米粒度分析儀
產品型號： NANOTRAC FLEX
所屬分類：納米粒度分析儀
產品時間：2023-10-28
簡要描述：NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動態光散射技術（DLS），引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念，快速準確地得到被測體系的納米粒度分布，外置固定式光學探頭滿足任何應用需求。
詳細說明：
納米粒度分析儀
NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動態光散射技術（DLS），引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念，快速準確地得到被測體系的納米粒度分布，外置固定式光學探頭滿足任何應用需求。
eParticle Analyzer）研發成功，引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運動而產生頻率變化的能譜概念，快速準確地得到被測體系的納米粒度分樣品，面積及光強分
外部環境：
電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz
環境要求：溫度，10-35°C
國際標準：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特點：
• 采用先進的動態光散射技術，引入能普概念代替傳統光子相關光譜法
• 異相多譜勒頻移技術，較之傳統的方法，獲得光信號強度高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性。
• 可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度。
• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
• 快速傅利葉變換算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統獲得的能譜，縮短分析時間。
• 膜電極設計，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。
• 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。
